Izumi T., Sato S., Iwakuma M., Yoshida K., Tomioka A., Machi T., Ibi A., Konno M., Honda S., Ueno T., Tsukigi Y., Nabekura K., Shindo R., Kawahara F., Tamura K., Yun K.
Ключевые слова: HTS, films, shielding current density, crack formation, numerical analysis
Izumi T., Sato S., Iwakuma M., Yoshida K., Tomioka A., Machi T., Ibi A., Konno M., Honda S., Ueno T., Tsukigi Y., Nabekura K., Shindo R., Kawahara F., Yun K., Tamura R.
Ключевые слова: HTS, EuBCO, coated conductors, stacked blocks, shielding current density, magnetization, relaxation, measurement setup, experimental results
Ключевые слова: HTS, thin films, crack formation, measurement technique, shielding current density, numerical analysis
Ключевые слова: measurement technique, shielding current density, HTS, films, defects, crack formation, high rate process, modeling, numerical analysis
Ключевые слова: undulator, HTS, magnetization, modeling, numerical analysis, magnetic field distribution, shielding current density
Ключевые слова: HTS, bulk, disks, levitation performance, magnets permanent, modeling, YBCO, shielding current density, guidance
Ключевые слова: HTS, films, crack formation, shielding current density, numerical analysis
Ключевые слова: measurement technique, numerical analysis, HTS, tapes, shielding current density, crack formation
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.